X射线荧光分析仪X-50,X-200,X-500
激光诱导击穿光谱仪Z-900
X射线荧光分析仪（XRF）不仅可以识别构成样品的元素，还可以通过检测用X射线照射样品而产生的每种元素特有的荧光X射线来分析其成分比例。XRF原则上是一种非破坏性、非侵入性测量设备。
应用包括采矿领域采矿和试钻过程中的矿物分析、工业领域材料等金属和合金的识别和分选、RoHS和CPSIA等安全合规性测试以及利用手持功能的SDG领域。预计将应用于广泛的领域，包括废品工厂废旧金属的识别和分选、环境领域的土壤污染调查以及利用其非侵入性特性对艺术品和工艺品进行鉴定。
X-50系列是一款低价型号。可以利用XRF功能，并以与高端型号相同的用户界面，而价格仅为旗舰型号的 50%。