ESD测试仪HED-W5300D,HED-W5100D,HED-W5000M,HED-W5000M-SP0,HED-W5000M-WFC
HED-W5000M-WFC测试设备在收集和分析集成电路内置的保护电路的工作参数方面发挥了主要作用，但随着半导体不断变得更小，需要进一步开发保护电路以提高ESD抵抗能力。
HED-W5000M-WFC测试仪可以观察实际施加到器件上的ESD波形，因此在收集和分析保护电路参数、缩短开发速度方面具有强大的威力。
WaferESD测试仪HED-W5300D比之前的产品HED-W5100D先进得多，并且现在可以自动控制放置Wafer的平台。
即使是 300mm 级的晶圆，只需将晶圆放置在平台上即可轻松测量。
毫无疑问，你的工作效率将会大大提高。
此外，还可以测试一般包装产品以及常规产品。