品牌:HANWA阪和电子工业
名称: Wafer ESD测试仪
型号:HED-W5000M-WFC
在集成电路中安装的保护电路的动作参数的收集和分析中,TLP测试装置发挥了很大的作用,但是在半导体的微细化进程中,为了提高ESD抗药性,需要进一步的保护电路的开发速度。
HED-W5000M-WFC测试仪可以观测实际加入设备的ESD波形,因此在保护电路参数的收集、分析、开发速度的缩短上发挥了很大的作用。
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