品牌:YAMABUN山文电气
名称:分光干涉测厚仪
型号:TOF-S
分光干涉测厚仪
电子光学用透明平滑薄膜,多层膜等
测试厚度:1-50um,10-150um测试范围:50-5000mm 分辨力:0.001um
TOF-S
粤公网安备 44030502001236号