TLP测试仪HED-T5000,HED-T5000VF,HED-T5000-HC
HED-T5000配备最先进的测试模式。我们有施加脉冲宽度为 100ns/200ns 的正常测试模式和施加脉冲宽度小至 1ns 的 VFTLP（超快速 TLP）测试模式。
可有效验证 HBM/CDM 测试的 ESD 容限。可以使用标准示波器确认器件引脚的入射波和器件引脚的反射波。
该数据被存储并显示在专用监视器上。专用监视器允许您跟踪入射波/反射波的总值、快速恢复特性、Vf/Im 测量的泄漏测量值等。
来自存储的示波器的数据允许灵活的计算处理。例如，您可以通过重叠迹线来检查工艺已更改的晶体管的导通电压差异或可流过保护电路的最大电流。
此外，TLP测试可以通过连接半自动探测器等实现自动化。
应用引脚与晶圆上芯片之间的自动移位和自动测量可以大大提高测试效率。